OES火花光電直讀光譜儀的工作原理是利用電火花燒蝕金屬樣品表面材料，產(chǎn)生特征發(fā)射光譜。在金屬樣品被火花激發(fā)時(shí)，基態(tài)原子在激發(fā)光源作用下獲得足夠能量，外層電子從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)。處于激發(fā)態(tài)的原子是不穩(wěn)定的，外層電子會(huì)從高能級(jí)向較低能級(jí)或基態(tài)躍遷，多余的能量以電磁輻射方式發(fā)射出去，得到發(fā)射光譜。通過(guò)導(dǎo)光系統(tǒng)將這些混合光譜導(dǎo)入到光室，經(jīng)過(guò)光柵進(jìn)行分光，再利用檢測(cè)器檢測(cè)這些特征譜線，數(shù)據(jù)系統(tǒng)就可以通過(guò)計(jì)算這些元素特征譜線的強(qiáng)度來(lái)?yè)Q算出對(duì)應(yīng)元素的濃度。

鋼鐵元素成分含量檢測(cè)儀

鋼鐵成分含量檢測(cè)儀是一種專(zhuān)門(mén)用于快速、準(zhǔn)確地檢測(cè)鋼鐵材料中各種元素含量的儀器。它采用了*的檢測(cè)技術(shù)和算法，可以在短時(shí)間內(nèi)獲取鋼鐵材料中的多種元素含量，如碳、硅、錳、硫、磷、鉻、鎳等。

這種儀器通常采用光電直讀發(fā)射光譜法或感應(yīng)耦合等離子體發(fā)射光譜法進(jìn)行測(cè)量。這些方法能夠激發(fā)樣品中的原子或離子，使其處于激發(fā)狀態(tài)，并測(cè)量這些原子或離子釋放出的光子的能量或波長(zhǎng)，從而確定樣品中的元素種類(lèi)和含量。

鋼鐵成分含量檢測(cè)儀具有以下特點(diǎn)：

1. 檢測(cè)速度快：可以在幾分鐘內(nèi)完成多種元素的測(cè)量，提高生產(chǎn)效率。

2. 精度高：采用*的檢測(cè)技術(shù)和算法，能夠獲得更準(zhǔn)確的結(jié)果。

3. 分析范圍廣：可以適應(yīng)不同種類(lèi)的鋼鐵材料，包括鋼材、鑄鐵、不銹鋼等。

4. 檢測(cè)靈敏度高：可以檢測(cè)出微量的元素含量，有助于發(fā)現(xiàn)潛在的質(zhì)量問(wèn)題。

5. 自動(dòng)化程度高：可以自動(dòng)完成樣品的制備、測(cè)量和數(shù)據(jù)分析，減少人工操作誤差。

在鋼鐵生產(chǎn)過(guò)程中，鋼鐵成分含量檢測(cè)儀具有重要的作用。它可以用于質(zhì)量控制、原料篩選、工藝控制等多個(gè)環(huán)節(jié)，幫助企業(yè)確保產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率。同時(shí)，這種儀器也可以為科研和教學(xué)提供數(shù)據(jù)支持，促進(jìn)鋼鐵行業(yè)的技術(shù)進(jìn)步和發(fā)展。

下面介紹公分應(yīng)用于鋼鐵成分檢測(cè)中的OES火花光電直讀光譜儀

OES光電直讀光譜儀簡(jiǎn)介：

儀器優(yōu)勢(shì)：

1、CCD/CMOS全譜光譜儀制造技術(shù)（數(shù)字化技術(shù)替代老式體積龐大笨重的光電倍增電子管模擬技術(shù)）、通道不受限制 ；

2、國(guó)內(nèi)生產(chǎn)真空CCD/CMOS全譜技術(shù)光譜儀的制造商；

3、基體范圍內(nèi)通道改變、增加不需費(fèi)用

4、升級(jí)多基體方便，無(wú)須變動(dòng)增加硬件 ；

5、優(yōu)良的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性，同一樣品不同的時(shí)間段分析，可獲得良好的數(shù)據(jù)一致性 ；

6、體積小、重量輕， 移動(dòng)安裝方便 ；

7、高集成度、高可靠性、高穩(wěn)定性 ；

直讀光譜分析主要特點(diǎn)：

1、可測(cè)定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鉻基，鈦基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基。全譜技術(shù)覆蓋了全元素分析范圍，可根據(jù)客戶(hù)需要選擇通道元素；

2、分析速度快捷，20秒內(nèi)測(cè)完所有通道的元素成分。針對(duì)不同的分析材料，通過(guò)設(shè)置預(yù)燃時(shí)間及標(biāo)線，使儀器用短的時(shí)間達(dá)到優(yōu)的分析效果；

3、光學(xué)系統(tǒng)采用真空恒溫光室， 激發(fā)時(shí)產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光室，實(shí)現(xiàn)光路直通,消除了光路損耗，提高檢出限，測(cè)定結(jié)果準(zhǔn)確，重現(xiàn)性及長(zhǎng)期穩(wěn)定性；

4、特殊的光室結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使真空室容積更小；

5、自動(dòng)光路校準(zhǔn)，光學(xué)系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)行譜線掃描，確保接收的正確性，免除繁瑣的波峰掃描工作。儀器自動(dòng)識(shí)別特定譜線，與原存儲(chǔ)線進(jìn)行對(duì)比，確定漂移位置，找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測(cè)定；

6、開(kāi)放式的電極架設(shè)計(jì)，可以調(diào)整的樣品夾，便于各種形狀和尺寸的樣品分析；

7、工作曲線采用國(guó)際標(biāo)樣，預(yù)做工作曲線，可根據(jù)需要延伸及擴(kuò)展范圍，每條曲線由多達(dá)幾十塊標(biāo)樣激發(fā)生成，自動(dòng)扣除干擾；

8、HEPS數(shù)字化固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料 ；

9、固態(tài)吸附阱，防止油氣對(duì)光室的污染，提高長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性；

10、銅火花臺(tái)底座，提高散熱性及堅(jiān)固性能；

11、合理的氬氣氣路設(shè)計(jì)，使樣品激發(fā)時(shí)氬氣沖洗時(shí)間縮短，為用戶(hù)節(jié)省氬氣；

12、采用鎢材料電極，電極使用壽命更長(zhǎng)，并設(shè)計(jì)了電極自吹掃功能，清潔電極更加容易；

13、高性能DSP及ARM處理器，具有高速數(shù)據(jù)采集及控制功能并自動(dòng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源、激發(fā)室等模塊 的運(yùn)行狀況；

14、儀器與計(jì)算機(jī)之間采用以太網(wǎng)連接，抗干擾性能好，外部計(jì)算機(jī)升級(jí)與儀器配置無(wú)關(guān)，使儀器具有更好的適用性；

15、核心器件全部，保證了儀器好品質(zhì)。

儀器參數(shù)：

應(yīng)用領(lǐng)域：

直讀光譜儀應(yīng)用CCD/CMOS光譜儀技術(shù), 廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機(jī)械、汽車(chē)制造、航空航天、兵器、金屬加工等領(lǐng)域的生產(chǎn)工藝控制，爐前化驗(yàn)，中心實(shí)驗(yàn)室成品檢驗(yàn)。

直讀光譜儀體積小、穩(wěn)定性好、檢測(cè)限低、分析速度快、運(yùn)行成本低、操作維護(hù)方便，是控制產(chǎn)品質(zhì)量的理想選擇等等。

鋼鐵元素成分含量檢測(cè)儀