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檢測分析測試測定測量化驗鍍層厚度儀器設備

簡要描述:檢測分析測試測定測量化驗鍍層厚度儀器設備
X熒光測量化驗鍍層厚度機器設備分析含量:ppm~99.99%
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
環境溫度:15℃~30℃

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-04-21
  • 訪  問  量:1659

詳細介紹

檢測分析測試測定測量化驗鍍層厚度儀器設備

   針對電鍍各個領域的廣泛應用,根據優化產品性能和提安全防護等級的需求,特別設計該款儀器。

應用新一代的壓電源和X光管,提產品的可靠性;利用新X光管的大功率提儀器的測試效率。

可測元素范圍:
鈦() – 鈾(U)

可測量厚度范圍:
原子序22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm

分析含量:ppm~99.99%

任意多個可選擇的分析和識別模型

相互獨立的基體效應校正模型

多變量非線性回歸程序

環境溫度:15℃~30℃

X-射線管:油冷,超微細對焦
壓:0-50KV(程控)
準直器:
固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
電腦系統:IBM相容,17"顯示器
綜合性能:鍍層分析  
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.  
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
   讓客戶滿意,為客戶創造大的價值是我們始終追求的目標,因為我們堅信,客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發展藍圖!

檢測分析測試測定測量化驗鍍層厚度儀器設備

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